1. Testability concepts for digital ICs : the macro test approach
پدیدآورنده : Beenker, F. P. M.)Frans P. M.(
کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتي شريف (تهران)
موضوع : ، Digital integrated circuits-- Testing,، Automatic checkout equipment
رده :
TK
7874
.
65
.
B44
1996
2. Testability concepts for digital ICs : the macro test approach
پدیدآورنده : Beenker, Frans P. M.
کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)
موضوع : Digital integrated circuits - Testing , Automatic checkout equipment
رده :
TK
7874
.
65
.
B44
1995
